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      光致發光量子效率測量系統

      光致發光量子效率測量系統

      產品型號: CME-PL

      所屬分類:光催化系統

      更新時間:2025-03-05

      簡要描述:可用于容納液體樣品的薄膜,粉末和比色皿。系統適用有機金屬復合物、熒光探針、染料敏化型PV材料、OLED材料、LED熒光粉等領域。

      詳細說明:

      CME-PL光致發光量子效率測量系統是一種緊湊,操作便捷,可在手套箱內完成搭建,無需將樣品取出 。該產品是一個系統解決方案,包括單色可調光源、光譜儀、積分球、光纖和計算機。 專用軟件使操作變得簡單??捎糜谌菁{液體樣品的薄膜,粉末和比色皿。系統適用有機金屬復合物、熒光探針、染料敏化型PV材OLED材料、LED熒光粉領域。


      主要特點:


      l適用于粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率;

      l光譜儀系統采用制冷型CCD信噪比高、雜散光低;

      l激發光源采用光柵搭配濾光鏡分光,可任意選擇波長;

      l體積小巧:便于靈活使用及運輸;

      l堅固、緊湊的設計,可以最大限度減少實驗室空間;

      l專業軟件,操作簡單;

      l光致發光量子效率、熒光材料發光發光測量(量子效率X吸收)、量子效率和激發波長的關系(-02G,-03G)、光致發光譜(峰值波長,FWHM)、光致發光激發譜(-02G,-03G)、色彩測定(色度、色溫、顯色指數等)。


      技術參數

      單色可調光源

      型號

      CME-TLSX300F

      功率

      300W

      光譜范圍

      300-1100nm

      焦距

      150mm

      分辨率

      0.3nm

      帶寬

      0.3-22nm

      光譜儀

      型號

      CME-QE2000(可選)

      光譜范圍(nm)

      300-1100nm

      光譜儀分光元件

      全息成像光柵

      感光元件

      電子冷卻型CCD影像感測器

      信噪比

      1000:01:00

      分辨率

      2.5nm(FWHM)

      積分球

      尺寸

      100mm

      涂層材質

      Sperctralon

      光纖

      芯徑

      800um

       

       




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